Matias V., Maiorov B., Moeckly B., Coulter Y., Sheehan C., Yung C., Glyantsev V., Ruby W., Huh J., Turner P.
Ключевые слова: presentation, HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, solution techniques, planarization, long conductors, co-evaporation process, critical caracteristics, critical current, critical current density, n-value, Jc/B curves, angular dependence, pinning, substrate Hastelloy, fabrication
Moeckly B.H.(bmoeckly@suptech.com), Ruby W.S.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.